III-nitrid vékonyrétegek és SiC nanoszemcsék elektronmikroszkópiája

Thumbnail
Megtekintés/Megnyitás
Metaadat
Teljes megjelenítés
Link a dokumentumra való hivatkozáshoz:
http://hdl.handle.net/10890/419
Gyűjtemény
Cím és alcím
III-nitrid vékonyrétegek és SiC nanoszemcsék elektronmikroszkópiája
Cím és alcím más nyelven
Electron microscopy of III-nitrid thin films and SiC nanocrystals
Szerző
Makkai, Zsolt
Megjelenés ideje
2005
Védés dátuma
2005-12-20
Témavezető
Pécz, Béla
Kiadó
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem
Nyelv
hu
Egyéb azonosítók
BME OMIKK katalógus-azonosító: 000469582
Dokumentumtípus
Ph.D. Thesis
Kar
Természettudományi Kar