III-nitrid vékonyrétegek és SiC nanoszemcsék elektronmikroszkópiája
Date
Authors
Advisor
Type
Ph.D. Thesis
Publisher
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem
Alternative
Electron microscopy of III-nitrid thin films and SiC nanocrystals
Date Defence
2005-12-20
Faculty
Természettudományi Kar
- Cite this item
- http://hdl.handle.net/10890/419
OOC works
Abstract
Description
Keywords
Vékonyréteg-technika, Nitrid, Szilícium, Karbid, Szövetszerkezet-vizsgálat, Elektronmikroszkóp