Accelerated Lifetime Testing of Thermal Interface Materials for Power Semiconductor Devices
| Juhász, Johanna Hedvig | ||
| 2026-03-03T12:45:34Z | ||
| 2026 | ||
| 2025.12.12 | ||
| http://hdl.handle.net/10890/64286 | ||
| magyar | ||
| Accelerated Lifetime Testing of Thermal Interface Materials for Power Semiconductor Devices | ||
| Szakdolgozat, diplomamunka | ||
| TITKOSÍTOTT | ||
| 2026.01.27 | ||
| Gazdaság- és Társadalomtudományi Kar | ||
| 1233449322 | ||
| Budapesti Műszaki- és Gazdaságtudmányi Egyetem | ||
| Műszaki menedzser mesterszak MSc | ||
| mesterképzés (MA/MSc) | ||
| viewer-download |
Files
Original bundle
1 - 1 of 1
Loading...
- Name:
- 1233449322.pdf
- Size:
- 4.81 MB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- 1233449322.pdf