Accelerated Lifetime Testing of Thermal Interface Materials for Power Semiconductor Devices
Date
Authors
Type
Szakdolgozat, diplomamunka
Language
magyar
Reading access rights:
TITKOSÍTOTT
Date Defence
2026.01.27
Faculty
Gazdaság- és Társadalomtudományi Kar
University
Budapesti Műszaki- és Gazdaságtudmányi Egyetem
University Program
Program Level
mesterképzés (MA/MSc)