Műegyetemi Digitális Archívum

Test Pattern Generation Based on High Level Hardware Description

Files

Primary 23420.ps (651.48 KB)

Date

1997

Title

Test Pattern Generation Based on High Level Hardware Description

Authors

Benyó, Balázs István

Type

disszertáció

Gender

kandidátus
Cite this item
http://hdl.handle.net/10890/2709

OOC works

Abstract

Description

Keywords

Collections

BME PA dokumentumai