Rövidített megjelenítés

dc.contributor.authorVass-Várnai, András
dc.contributor.authorPlesz, Balázs
dc.contributor.authorSárkány, Zoltán
dc.contributor.authorA Malek
dc.contributor.authorKerecsen Istvánné Rencz, Márta
dc.date.accessioned2016-09-04T21:35:16Z
dc.date.available2016-09-04T21:35:16Z
dc.date.issued2012
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10890/4599
dc.language.isoen
dc.publisherIEEE
dc.titleApplication of Thermal Transient Testing for Solar Cell Characterization
dc.typekönyvrészlet
dc.identifier.mtmt2683422
dc.identifier.scopus84861125571
dc.identifier.wos000309172400027
dc.other.containerIdentifierIsbn978-1-4673-1109-0
dc.other.containerMtmt2683174
dc.other.containerTitleProceedings of the 28th IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM'12)
dc.type.typekonferenciaközlemény


A dokumentumhoz tartozó fájlok

Thumbnail

A dokumentum a következő gyűjtemény(ek)ben található meg

  • BME PA dokumentumai [3736]
    Lezárt gyűjtemény. Fájlok hozzáférési felülvizsgálata folyamatban. Jelenleg a dokumentumok kizárólag BME-s IP címekről érhetők el.

Rövidített megjelenítés