Show simple item record

Dabóczi, Tamás
2016-09-04T21:35:09Z
2016-09-04T21:35:09Z
2012
http://hdl.handle.net/10890/4560
en
IEEE
Robust ADC Testing With Very Long Time Records
könyvrészlet
2680542
84864220139
000309449100505
978-1-4577-1771-0; 978-1-4577-1772-7
2685873
Proceedings of the 2012 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference
konferenciaközlemény


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

  • BME PA dokumentumai [3731]
    Lezárt gyűjtemény. Fájlok hozzáférési felülvizsgálata folyamatban. Jelenleg a dokumentumok kizárólag BME-s IP címekről érhetők el.

Show simple item record