Robust ADC Testing With Very Long Time Records

Cím és alcím: Robust ADC Testing With Very Long Time Records
Szerző: Dabóczi, Tamás
Megjelenés ideje: 2012
Kiadó: IEEE
Nyelv: en
Egyéb azonosítók: MTMT: 2680542; Scopus: 84864220139; Web of Science: 000309449100505
A cikket/könyvrészletet tartalmazó dokumentum címe: Proceedings of the 2012 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference
ISBN, e-ISBN: 978-1-4577-1771-0; 978-1-4577-1772-7
Dokumentumtípus: könyvrészlet
Műfaj: konferenciaközlemény