Arany vékonyréteg elektródok felületének minősítése elektrokémiai és atomerő mikroszkópiás (AFM) eljárásokkal

Thumbnail
Megtekintés/Megnyitás
Dátum
2010
Szerző
Bonyár, Attila
Metadata
Teljes megjelenítés
URI
http://hdl.handle.net/10890/4145
Collections