Show simple item record

dc.contributor.authorTimár, András
dc.contributor.authorBognár, György
dc.date.accessioned2016-09-04T21:31:52Z
dc.date.available2016-09-04T21:31:52Z
dc.date.issued2009
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10890/3341
dc.language.isoen
dc.publisherIEEE Computer Society Press
dc.titleContactless characterization of MEMS devices using optical microscopy
dc.typekönyvrészlet
dc.identifier.mtmt2640510
dc.identifier.scopus70349332832
dc.identifier.wos000267364000045
dc.other.containerIdentifierIsbn978-1-4244-3339-1
dc.other.containerMtmt2640509
dc.other.containerTitleProceedings of the 12th IEEE workshop on Design & Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS '09)
dc.type.typekonferenciaközlemény


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

  • BME PA dokumentumai [3736]
    Lezárt gyűjtemény. Fájlok hozzáférési felülvizsgálata folyamatban. Jelenleg a dokumentumok kizárólag BME-s IP címekről érhetők el.

Show simple item record