Show simple item record

Farkas, Gábor
Q van Vorst Vader
Poppe, András
Bognár, György
2016-09-04T21:29:39Z
2016-09-04T21:29:39Z
2003
http://hdl.handle.net/10890/2556
en
Thermal Investigation of High Power Optical Devices by Transient Testing
egyéb konferenciaközlemény
2613858
2613622
Proceedings of the 9th International Workshop on THERMal INvestigations of ICs and Systems (THERMINIC'03)
konferenciaközlemény


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

  • BME PA dokumentumai [3731]
    Lezárt gyűjtemény. Fájlok hozzáférési felülvizsgálata folyamatban. Jelenleg a dokumentumok kizárólag BME-s IP címekről érhetők el.

Show simple item record