New Way for Thermal Transient Testing

Thumbnail
Megtekintés/Megnyitás
Metadata
Teljes megjelenítés
URI
http://hdl.handle.net/10890/2537
Collections
Cím és alcím
New Way for Thermal Transient Testing
Szerző
Székely, Vladimir
Kerecsen Istvánné Rencz, Márta
Poppe, András
B Courtois
Megjelenés ideje
1998
Kiadó
IEEE
Nyelv
en
Egyéb azonosítók
MTMT: 2613582
Scopus: 0032640876
Web of Science: 000079934500024
A cikket/könyvrészletet tartalmazó dokumentum címe
Fourteenth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
ISBN, e-ISBN
0780344863
Dokumentumtípus
könyvrészlet
Műfaj
konferenciaközlemény