Show simple item record

K Tarnay
F Masszi
T Kocsis
Poppe, András
P Verhás
2016-09-04T21:29:31Z
2016-09-04T21:29:31Z
1992
http://hdl.handle.net/10890/2523
en
Quantum Mechanical Approach for the Examination of the Properties of MOS Inversion Layers in p-type Silicon
egyéb konferenciaközlemény
2613515
2613514
Proc. of the 15th NORDIC Semiconductor Meeting
konferenciaközlemény


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

  • BME PA dokumentumai [3590]
    Lezárt gyűjtemény. Fájlok hozzáférési felülvizsgálata folyamatban. Jelenleg a dokumentumok kizárólag BME-s IP címekről érhetők el.

Show simple item record