Thermal Investigation of High Power Optical Devices by Transient Testing
Farkas, Gábor | ||
Q van Voorst Vader | ||
Poppe, András | ||
Bognár, György | ||
2016-09-04T21:29:05Z | ||
2016-09-04T21:29:05Z | ||
2005 | ||
http://hdl.handle.net/10890/2392 | ||
en | ||
Thermal Investigation of High Power Optical Devices by Transient Testing | ||
folyóiratcikk | ||
2607108 | ||
15744383645 | ||
000227484200007 | ||
1521-3331 | ||
1 | ||
28 | ||
IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS AND PACKAGING TECHNOLOGIES | ||
szakcikk |
Files in this item
This item appears in the following Collection(s)
-
BME PA dokumentumai [3588]
Lezárt gyűjtemény. Fájlok hozzáférési felülvizsgálata folyamatban. Jelenleg a dokumentumok kizárólag BME-s IP címekről érhetők el.