Show simple item record

Farkas, Gábor
Q van Voorst Vader
Poppe, András
Bognár, György
2016-09-04T21:29:05Z
2016-09-04T21:29:05Z
2005
http://hdl.handle.net/10890/2392
en
Thermal Investigation of High Power Optical Devices by Transient Testing
folyóiratcikk
2607108
15744383645
000227484200007
1521-3331
1
28
IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS AND PACKAGING TECHNOLOGIES
szakcikk


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

  • BME PA dokumentumai [3731]
    Lezárt gyűjtemény. Fájlok hozzáférési felülvizsgálata folyamatban. Jelenleg a dokumentumok kizárólag BME-s IP címekről érhetők el.

Show simple item record