Thermal Investigation of High Power Optical Devices by Transient Testing

Thumbnail
Megtekintés/Megnyitás
Metaadat
Teljes megjelenítés
Link a dokumentumra való hivatkozáshoz:
http://hdl.handle.net/10890/2392
Gyűjtemény
Cím és alcím
Thermal Investigation of High Power Optical Devices by Transient Testing
Szerző
Farkas, Gábor
Q van Voorst Vader
Poppe, András
Bognár, György
Megjelenés ideje
2005
Nyelv
en
Egyéb azonosítók
MTMT: 2607108
Scopus: 15744383645
Web of Science: 000227484200007
A cikket/könyvrészletet tartalmazó dokumentum címe
IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS AND PACKAGING TECHNOLOGIES
A forrás folyóirat évfolyama
28
A forrás folyóirat száma
1
ISSN, e-ISSN
1521-3331
Dokumentumtípus
folyóiratcikk
Műfaj
szakcikk