Show simple item record

Pusztai, László
Kugler, Sándor
2016-09-04T21:26:45Z
2016-09-04T21:26:45Z
2005
http://hdl.handle.net/10890/1699
en
Comparison of the structures of evaporated and ion-implanted amorphous silicon samples
folyóiratcikk
144515
24344496950
000229222200014
0953-8984
1361-648x
17
JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER
szakcikk


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

  • BME PA dokumentumai [3590]
    Lezárt gyűjtemény. Fájlok hozzáférési felülvizsgálata folyamatban. Jelenleg a dokumentumok kizárólag BME-s IP címekről érhetők el.

Show simple item record