Show simple item record

dc.contributor.advisorHarsányi, Gábor
dc.contributor.authorMolnár, László Milán
dc.date.accessioned2015-08-03T10:36:37Z
dc.date.available2015-08-03T10:36:37Z
dc.date.issued2012
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10890/1158
dc.language.isohu
dc.publisherBudapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem
dc.subjectElektronikai gyártástechnológia
dc.subjectIntegrált áramkör
dc.subjectVastagréteg-technika
dc.subjectHatárfelület
dc.subjectKötés (mechanikai)
dc.subjectMikroszkópos vizsgálat
dc.subjectPásztázómikroszkóp
dc.titleElektronikai kötési határfelületek minősítése atomerő-mikroszkópos képalkotással és -elemzésselhu
dc.title.alternativeQualification of electronic bond interfaces by atomic force microscopy imaging and analysis
dc.typePh.D. Thesis
dc.publisher.doctoral-schoolVillamosmérnöki Tudományok Doktori Iskola
dc.publisher.facultyVillamosmérnöki és Informatikai Kar
dc.date.defence2012-08-29
dc.identifier.bmeomikk-aleph000523764


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record