Show simple item record

Harsányi, Gábor
Molnár, László Milán
2015-08-03T10:36:37Z
2015-08-03T10:36:37Z
2012
http://hdl.handle.net/10890/1158
hu
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem
dc.subjectElektronikai gyártástechnológia
dc.subjectIntegrált áramkör
dc.subjectVastagréteg-technika
dc.subjectHatárfelület
dc.subjectKötés (mechanikai)
dc.subjectMikroszkópos vizsgálat
dc.subjectPásztázómikroszkóp
Elektronikai kötési határfelületek minősítése atomerő-mikroszkópos képalkotással és -elemzésselhu
Qualification of electronic bond interfaces by atomic force microscopy imaging and analysis
Ph.D. Thesis
Villamosmérnöki Tudományok Doktori Iskola
Villamosmérnöki és Informatikai Kar
2012-08-29
000523764


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record