Elektronikai kötési határfelületek minősítése atomerő-mikroszkópos képalkotással és -elemzéssel

Link to refer to this document:

Title: Elektronikai kötési határfelületek minősítése atomerő-mikroszkópos képalkotással és -elemzéssel
Title and subtitle in another language: Qualification of electronic bond interfaces by atomic force microscopy imaging and analysis
Author: Molnár, László Milán
Date of issue: 2012
Date of defence: 2012-08-29
Advisor: Harsányi, Gábor
Publisher: Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem
Language: hu
Identifiers: BME OMIKK katalógus-azonosító: 000523764
Document type: Ph.D. Thesis
Faculty: Villamosmérnöki és Informatikai Kar
Doctoral school: Villamosmérnöki Tudományok Doktori Iskola