Elektronikai kötési határfelületek minősítése atomerő-mikroszkópos képalkotással és -elemzéssel

Cím és alcím: Elektronikai kötési határfelületek minősítése atomerő-mikroszkópos képalkotással és -elemzéssel
Cím és alcím más nyelven: Qualification of electronic bond interfaces by atomic force microscopy imaging and analysis
Szerző: Molnár, László Milán
Megjelenés ideje: 2012
Védés dátuma: 2012-08-29
Témavezető: Harsányi, Gábor
Kiadó: Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem
Nyelv: hu
Egyéb azonosítók: BME OMIKK katalógus-azonosító: 000523764
Dokumentumtípus: Ph.D. Thesis
Kar: Villamosmérnöki és Informatikai Kar
Doktori iskola: Villamosmérnöki Tudományok Doktori Iskola